※ 대상 장비 

 - AFM​

 - 3A solar simulator  ​​

 - 대면적 집광형  solar simulator​​

​ - E-BEAM​

 - IPCE

 - Optical Microscope(Reflected & Transmitted Microscope)​

 - DSC​

 - 4-point probe

 - Nano Imprint Lithography​

 - Energy Dispersive X-Ray Florescence (ED-XRF) Analyzer

 - HIGH TEMP 3 ZONE TUBE FURNACE​

 - Surface Profilometer​

 - Contact angle​

 - Mask Alignment & Exposure System​​ ​

 - UV/Vis/NIR Absorption Spectrophotometer​ ​

 ​

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< 장비 교육, 점검 진행현황>

​- FT-IR Spectrometer​​